Journal des nanomatériaux et de la nanotechnologie moléculaire

Effets dimensionnels classiques et topologiques dans les couches minces de SnO2 détectés par la technique de résonance plasmonique de surface

Grinevich VS, Filevskaya LN, Maximenko LS, Matyash IE, Mischuk ON, Rudenko SP, Serdega BK et Smyntyna VA

Effets dimensionnels classiques et topologiques dans les couches minces de SnO2 _détectés par la technique de résonance plasmonique de surface

Français Les caractéristiques de réflexion interne causées par la résonance plasmonique de surface dans des films nanométriques contenant des amas de dioxyde d'étain défectueux dans la matrice diélectrique stœchiométrique sont étudiées au moyen de la modulation de polarisation du rayonnement électromagnétique. Les caractéristiques angulaires et spectrales des réflectances R _s ² et R _ρ ² des rayonnements polarisés s et p et leur différence de polarisation ρ=R _s ² –R _ρ ² sont mesurées dans la gamme de longueurs d'onde λ=400-1600 nm. Les caractéristiques expérimentales obtenues ρ(θ, λ) (θ est l'angle d'incidence du rayonnement) représentent les caractéristiques des propriétés optiques associées à la structure et à la morphologie du film. Les polaritons des plasmons de surface et les plasmons locaux excités par les rayonnements polarisés s et p sont détectés ; leurs propriétés de fréquence et de relaxation sont déterminées. La technique employée pour étudier la résonance plasmonique de surface dans les films de dioxyde d'étain s'avère structurellement sensible.