Stéphane Salvator*
L'objectif de cet article est de reconnaître les défauts paramétriques dans les circuits simples multi-entrées en abordant les coefficients d'un modèle de rechute polynomial en utilisant des méthodes classiques de moindres carrés directs, avec une certaine considération appliquée dans l'arrangement. Le rendement du circuit multi-entrées est communiqué jusqu'à plus d'un point d'information en utilisant des coefficients polynomiaux. Dans l'approche proposée, la valeur de chaque partie du circuit sous test (CUT) est différée dans sa limite de résistance en utilisant une reproduction de Monte-Carlo pour déterminer ses limites de coefficients polynomiaux sans défaut. Le CUT est ensuite déclaré sans défaut ou défectueux en fonction du résultat de l'examen de ses coefficients polynomiaux évalués avec les coefficients sans défaut. Pour autant que nous puissions le savoir, la reconnaissance des défauts paramétriques dans les circuits simples multi-entrées en utilisant la démonstration de rechute polynomiale est tentée sans précédent pour l'écriture. L'adéquation de la stratégie proposée est démontrée au moyen de deux études contextuelles, en particulier, un circuit de relâchement de plomb et le compensateur PI d'un convertisseur d'échange de type abaisseur contrôlé en mode courant de pointe.